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Filmes Finos de V2O5 dopados com Nb2O5.
dc.creator | Westphal, Talita Marth | |
dc.date.accessioned | 2022-11-07T14:37:32Z | |
dc.date.available | 2022-11-07 | |
dc.date.available | 2022-11-07T14:37:32Z | |
dc.date.issued | 2015-06-30 | |
dc.identifier.citation | WESTPHAL, Talita Marth. Filmes finos de V2O5 dopados com Nb2O5. 2015, 92 f. Dissertação (Mestrado em Ciência e Engenharia de Materiais) - Programa de Pós-Graduação em Ciência e Engenharia de Materiais, Centro de Desenvolvimento Tecnológico, Universidade Federal de Pelotas, Pelotas, 2015. | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://guaiaca.ufpel.edu.br/handle/prefix/8763 | |
dc.description.abstract | This work pretend to study thin films of vanadium pentoxide (V2O5) doped with niobium pentoxide (V2O5:Nb2O5) prepared by the sol-gel process. The sols were obtained by using niobium ethoxide (Nb(OCH2CH3)5) and vanadium alkoxide (OV(OCH(CH3)2)3 – vanadium oxytriisopropoxide) as precursors, isopropanol as solvent and glacial acetic acid as catalyst. The thin films were deposited by dip coating technique on a substrate (FTO). There will be a systematic study to obtain thin films with the desired electrochemical properties. The thin films deposited was submitted to a heat treatment of 350°C for 30 minutes in air atmosphere. In order thin films of V2O5 and V2O5:Nb2O5 were studied by different electrochemical techniques such as cyclic voltammetry (CV), chronoamperometry (CA), chronocoulometry (CC), electrochemical impedance spectroscopy (EIS) and UV-Vis spectroscopy. To study the morphology of the films were realized measurements of scanning electron microscopy (SEM) and atomic force microscopy (AFM). The objective of this work is to prepare and characterize thin films with electrochromic properties and the possibility of using these films as counter electrode in electrochromic device. | pt_BR |
dc.description.sponsorship | Sem bolsa | pt_BR |
dc.language | por | pt_BR |
dc.publisher | Universidade Federal de Pelotas | pt_BR |
dc.rights | OpenAccess | pt_BR |
dc.subject | Sol-gel | pt_BR |
dc.subject | Eletrocromismo | pt_BR |
dc.subject | Filmes finos | pt_BR |
dc.subject | V2O5:Nb2O5 | pt_BR |
dc.subject | Electrochromism | pt_BR |
dc.subject | Thin films | pt_BR |
dc.title | Filmes Finos de V2O5 dopados com Nb2O5. | pt_BR |
dc.title.alternative | Thin films of V2O5 doped with Nb2O5. | pt_BR |
dc.type | masterThesis | pt_BR |
dc.contributor.authorID | pt_BR | |
dc.contributor.authorLattes | http://lattes.cnpq.br/5420138477513640 | pt_BR |
dc.contributor.advisorID | pt_BR | |
dc.contributor.advisorLattes | http://lattes.cnpq.br/9101375491904726 | pt_BR |
dc.description.resumo | A presente dissertação propõe estudar filmes finos de pentóxido de vanádio (V2O5) dopados com pentóxido de nióbio (V2O5:Nb2O5), preparados pelo processo sol-gel. Os sóis foram obtidos utilizando etóxido de nióbio (Nb(OCH2CH3)5) e alcóxido de vanádio (OV(OCH(CH3)2)3 – oxitriisopropóxido de vanádio) como precursores, isopropanol como solvente e ácido acético glacial como catalisador. Os filmes finos foram depositados pela técnica de dip coating sobre um substrato condutor eletrônico (FTO). A partir disso, foi feito um estudo sistemático para a obtenção de filmes finos com as propriedades eletroquímicas desejadas. Os filmes finos depositados foram submetidos ao tratamento térmico de 350°C durante 30 minutos em atmosfera de ar. Os filmes finos de V2O5 e V2O5:Nb2O5 foram estudados através de diferentes técnicas eletroquímicas, tais como voltametria cíclica (VC), cronoamperometria (CA), cronocoulometria (CC), espectroscopia de impedância eletroquímica (EIE) e espectroscopia no UV-Vis. Para estudar a morfologia dos filmes, foram realizadas medidas de microscopia eletrônica de varredura (MEV) e microscopia de força atômica (MFA). O objetivo da dissertação foi preparar e caracterizar filmes finos com propriedades eletrocrômicas e a sua possibilidade de utilizar esses filmes como contra-eletrodo num dispositivo eletrocrômico. | pt_BR |
dc.publisher.department | Centro de Desenvolvimento Tecnológico | pt_BR |
dc.publisher.program | Programa de Pós-Graduação em Ciência e Engenharia de Materiais | pt_BR |
dc.publisher.initials | UFPel | pt_BR |
dc.subject.cnpq | CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA DE MATERIAIS E METALURGICA | pt_BR |
dc.publisher.country | Brasil | pt_BR |
dc.contributor.advisor1 | Avellaneda, César Antonio Oropesa |
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PPGCEM: Dissertações e Teses [163]
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